Достижения Доп. раздел |
Важнейшие результаты 2009 г.Методами ионной имплантации и молекулярно-лучевой эпитаксии созданы нанокристаллические слои полупроводниковых дисилицидов железа и хрома, закрытые эпитаксиальным слоем кремния и обладающие повышенными люминесцентными (в области 1.5 мкм) и термоэлектрическими свойствами. Отдел радиационных воздействий на материалы, лаборатория интенсивных радиационных воздействий. Для создания тройных полупроводниковых гетероструктур кремний/наночастицы силицидов /кремний проведена имплантация монокристаллического кремния ионами железа и хрома до концентрации 10 ат. % в слое ∼100 нм с последующим молекулярно-лучевым ростом эпитаксиальных слоев кремния (с толщиной вплоть до ∼2 мкм). Ключевой операцией синтеза высокоориентированных полупроводниковых наночастиц силицидов β-FeSi2 и CrSi2 с размерами 20-50 нм является наносекундный лазерный либо ионный отжиг после ионной имплантации, позволяющий эффективно устранить радиационные и ростовые дефекты в кремнии. Сверхвысоковакуумная низкотемпературная очистка поверхности в потоке атомарного кремния и молекулярно-лучевая эпитаксия (МЛЭ) позволяют наносить покрывающие слои кремния с заданным типом проводимости для приборных применений. Созданные гетероструктуры обладают низкой шероховатостью поверхности (около 1 нм), приемлемой для планарной технологии микроэлектроники, а также имеют высокую интенсивность фотолюминесценции в области 1.5-1.6 мкм ( см.рис. 1) и высокие значения термо-ЭДС (∼300 мкВ/К). Работа проведена совместно с Институтом автоматики и процессов управления ДВО РАН, Владивосток. Рис. 1. Спектр фотолюминесценции гетероструктуры Si/β-FeSi2/Si, полученной ионной имплантацией, импульсным отжигом и МЛЭ.
| ||